
更新時間:2020-08-12
產品(pǐn)品(pǐn)牌:Semiconsoft
產品型號:MProbe NIR
采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀(yí)可以用於測量一些可見光和紫外(wài)光無法使用的應用領域,比(bǐ)如(rú)在可見光範圍內有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快(kuài)速的測量。
測量(liàng)範圍: 100 nm -200um
波長範圍: 900 nm -2500 nm
適用於實時在線測量,多層測(cè)量,非均(jun1)勻塗層, 軟(ruǎn)件包含大(dà)量材料庫(超過500材料(liào)),新材料可以很容易的添加,支持多(duō)重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
測量指(zhǐ)標:薄膜厚度,光學常數
界麵友(yǒu)好: 一鍵式測量和分析(xī)。
實用的工具:曲線擬合和靈敏度分析,背景和(hé)變形校正,連(lián)接(jiē)層和材料,多樣品測量,動態測量和產(chǎn)線批量處理。


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