TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX-800av凹凸视频在线观看儀器（上海）有（yǒu）限公司

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元素（sù）分析
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表（biǎo）麵分析
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探針式（shì）輪廓儀/台階儀光學輪（lún）廓儀納米力學測試係統摩擦磨損儀原子力顯微鏡（jìng）
太陽能/半導（dǎo）體
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薄膜應力測（cè）量（liàng）儀矽片表麵形貌/晶圓測量（liàng）漆膜附著力測試電學特征
通用儀器耗材及檢測（cè）服務
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原子力顯（xiǎn）微鏡探針檢測服務電荷靈敏前（qián）置放大器 CUBE PV/I-V測試濾芯/濾袋

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TXRF全（quán）反射（shè）X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX

更新（xīn）時間：2022-07-15

產品品牌：Bruker

產品型號（hào）：S2 PICOFOX

產（chǎn）品描述：TXRF全反射X射線熒光（guāng）光譜（pǔ）儀可對固體、粉末、液（yè）體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行（háng）定性、定量（liàng）分析，元素範圍13Al-92U。

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痕量分析 TXRF 光譜儀（yí）
TXRF全反射X射線熒光光譜儀快速多元素痕（hén）量分（fèn）析可對固體、粉末、液體（tǐ）、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄（báo）膜樣品等進行定性（xìng）、定量分析，元素範圍13Al-92U。
需要樣品量少，液體及懸浮物樣品（pǐn）1-50微（wēi）升，粉末樣品10微克以內。
便攜式全反射熒光儀，設備小巧，一體化結構設計，不需要任何輔助設（shè）備及氣體、液氮等，可拿到現場進行分析。
1位及25位全自動（dòng）進樣器兩款設計，分別適用於每天有少量樣品及大批量樣品的全自動分析。
第四代XFlash®SDD矽漂移探測器，采用帕爾貼冷卻技術，不需要液氮，沒有任何消（xiāo）耗。分（fèn）辨率（lǜ）160eV at MnKa 100Kcps。
由於全反射無背景，熒光強度與元素含量（liàng）直接成正比。標準曲線工廠已校準好，用戶不需要標樣就可以進行定（dìng）量分析（xī）。

行業應用：

水、廢水、土壤中的汙染元素；血液、尿液（yè）、組織中的有毒元素；食品、醫藥、刑偵、環保、陶瓷、水泥、建材、地質等領域。