TXRF全反射X射線熒光光譜儀S4 TSTAR-800av凹凸视频在线观看儀器（上（shàng）海）有限公司

產品中心

元素分析
+
直讀光譜儀（yí）手持/便攜（xié）式X射（shè）線熒光（guāng）光譜儀科研級手持/便（biàn）攜式X射線熒光光譜儀波長色散型X射線熒光光譜儀 WDXRF 在線式X射線熒光光譜分（fèn）析儀微區X射線熒（yíng）光光（guāng）譜儀 X射線衍射儀 XRD 全反射X射線（xiàn）熒光光譜儀三維 X 射線顯微鏡岩心掃描XRF分析儀鑽井信息采集管理
表麵分析
+
探針式輪廓儀/台階儀光學輪（lún）廓儀納米力學測試係統摩（mó）擦磨損儀（yí）原子力顯微鏡
太陽能/半導（dǎo）體
+
薄膜應（yīng）力（lì）測量儀矽片表麵形貌/晶圓測量漆膜附著力測試電學特征
通用儀器耗材及檢測服務
+
原（yuán）子力顯微鏡探針檢測服務（wù）電（diàn）荷靈敏前置放大器 CUBE PV/I-V測試濾芯/濾袋

TXRF全反射X射線熒光光譜儀S4 TSTAR

更新時間：2020-08-12

產品品牌：Bruker

產品（pǐn）型號：S4 TSTAR

產品（pǐn）描述：X射線熒光（XRF）光譜法在多個行業中被廣泛用於對固體和石油化工樣品進行元素分析，檢測（cè）限值低於PPb 量級。

在線留言

S4 TStar — TXRF全反射X射線熒光光譜儀（yí）
數十年來，X 射線熒光（XRF）光譜法在多個行業中被廣（guǎng）泛用（yòng）於對固體和石油化工樣品進（jìn）行元素分析，檢測限值低於PPb 量級。TXRF 擴展了XRF 的應用範圍，可以分析液體樣品、懸浮（fú）液和膜片中的超微量元素。

優異的樣品通用性
S4 TStar 是一種通用性很強的工具，可以分析不同反射載（zǎi）體上的多種類型的樣品。

ICP 隻能分析完全溶解的液體樣品。

圖一：30 毫米石英片：對液（yè）體、固體和懸浮液進行元素分析
圖二：2 英寸晶片：汙染分（fèn）析、深度剖析和材料科學（xué）研究
圖三：顯微鏡載玻片：臨床和生物學樣品，直接（jiē）分析細胞培養物、塗片和切片
圖四：矩形載體：尺寸小於54 毫米（mǐ），用於膜片、濾（lǜ）片、納米顆粒層
定製的（de）反射介質

行業應用：

·  藥品
檢（jiǎn）測活性藥物成分中的催化（huà）元素：液體或丸粒中的鉛含量小於0.1 / 0.5ppm
·  食品
糧農組織和世衛組織的食品（pǐn）標準：大米中的砷含量小於10 / 40ppb。
·  環境（jìng）監測
環境監測：地表水，廢水、汙泥和核廢（fèi）液中的汙染物含量小於1 / 10ppb。