更新時（shí）間：2020-08-12
產品品牌：Bruker
產品（pǐn）型號：Tracer
TRACER 5i是Bruker公（gōng）司2016年底新發布的（de）科研型手持式XRF設備（bèi），也稱便攜式XRF。是繼原有Tracer家族係列後, Bruker發布的手持式XRF產品。其性能是市售一般（bān）手持式XRFwu法（fǎ）比擬的, 在歐美藝術界/考古學/鑒定/修複行業中 受（shòu）到各大博物館青睞。
技術特點及其優勢：
· TRACER 5i是手持（chí）式XRF外觀（guān）設（shè）計，適合各種場所；同時，又有分析軟件，具有實驗（yàn）室級別XRF分析儀的功能和準確性。
· 光斑用戶（hù）可調：有3mm和（hé）8mm兩種（zhǒng）孔徑的準直器，用戶可以自行更換。
· 用戶可以自己製作/更換濾片以元素測量（liàng）的靈敏度（dù）；Bruker提供工（gōng）具用於製作濾片。
· 優良的光束品質：專有的SharpBeam™光束優化技術，在低功率下也有優良表現
· 具有NASA技術的真空泵（bèng），可以在設備內部、測量的光路區域形成真空，設備對輕質元素如Na、Mg、Al等的靈（líng）敏度，適合測量玻璃、陶瓷等材質；由於（yú）真空是在設備內部的，並不會對被測物體造成傷害，如出（chū）土的絲綢、紙（zhǐ）張等材質。真空（kōng）泵上有（yǒu）真空度顯示，方便用戶識別（bié）。
· 元素檢測範圍從Na（11） - U（92）, 限（xiàn）條（tiáo）件下可偵測到F（9） (是市（shì）售靈敏便攜式XRF分析儀)。 TRACER 5i專門（mén）優化設計了氣體流動（dòng）通道 - 可提供氦氣（He）吹拂, 或搭（dā）配其它氣體來協助分析。
· 控製的多樣（yàng）性：可以使用設備內建的PDA界麵控製，也可以（yǐ）使用PC或者平板電腦連接（jiē）控（kòng）製。
行業應用：
金屬分析,廢料分揀,材料可靠性鑒（jiàn）別,采礦與探（tàn）礦,環境（jìng）與土壤篩選,藝術（shù）與考古,研究與教學
目前在國外有很多大博物館（guǎn）、大學、考古（gǔ）研究機構使用它，請參看如下：
1.National Gallery of Art Washington DC USA美國華盛頓國（guó）jia藝術館（3台）
2.Smithsonian Institution USA and Panama美國和巴拿馬史密森學會（8台）
3.Getty Museum Los Angles USA美國洛杉磯蓋蒂博物（wù）館（3台）
4.Metropolitan Museum of Art New York City USA美國紐約市大都會藝（yì）術博物館（3台）
5.The British Museum London England 英國倫敦大英博（bó）物館（1台）
6.Historic Scotland Edinburg Scotland蘇格蘭愛丁堡曆史蘇格蘭（1台）
7.American Natural History Museum New York City USA美國紐約（yuē）市紐約自然曆史博（bó）物館（2台）
8.National Gallery of Art Canberra Australia 澳大利亞堪培拉國家藝術館（2台）
9.C2RMF Laboratoire de recherche des musées de France (LRMF) Paris France法國巴黎羅浮宮（1台）Tracer III-SD system
電話：86-021-37018108
傳真：86-021-57656381
郵箱：info@scenfurniture.com
地址：上海市鬆江區莘磚公路518號（hào）鬆江（jiāng）高科技園區28幢301室（shì）
