
薄膜應力和矽片翹曲檢測儀(yí)
光(guāng)學設(shè)計減少圖形(xíng)襯底對激光的幹涉。
連續(xù)式(shì)四探(tàn)針片電阻及光學膜厚測量設(shè)備
連續式四探針片電阻及光學膜厚測(cè)量設備設計, 片電阻不(bú)受針尖距離影響(xiǎng)多種型號以供選擇(zé)
漆膜附著(zhe)力測試
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矽片表麵形貌測量,材料表麵形(xíng)貌分析
晶圓厚(hòu)度測(cè)量係統
FSM413回波探頭傳感器(qì)使用紅外(IR)幹涉(shè)測量技術。
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