
薄膜應力及基底翹曲測試設備
FSM128係列設(shè)備,裝備有光學掃描係統(tǒng)。
薄膜應(yīng)力及(jí)基底翹曲測試設備
FSM 500TC 200mm 高溫應力測試係統可以幫助研(yán)發和(hé)工藝(yì)工程師評估薄(báo)膜的熱力學(xué)性.....
晶圓厚度測量係統
FSM413回波探頭傳(chuán)感器使用具有紅外(IR)幹涉測量技術
Line Card
全自動紫外線芯片應力測量儀
全自動紫外線芯片應力測量儀一台全自動紫外線——可見光RAMan儀器,主要用與(yǔ)測量芯片應力。
紅(hóng)外(wài)幹涉測量設備
紅外幹涉測量技(jì)術, 非接觸式測量
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